奧林巴斯的X射線熒光（XRF）礦石分析儀具有分析性能，可以實(shí)時(shí)提供地球化學(xué)數(shù)據(jù)，從而有助于用戶快速確定土壤、巖石和礦石的多元素特性。XRF技術(shù)的新發(fā)展，增加了可測元素的數(shù)量，改進(jìn)了檢出限，并降低了檢測時(shí)間。
Vanta VMR XRF礦石分析儀在金礦上和金礦實(shí)驗(yàn)室中，可以快速方便地測量與黃金勘探相關(guān)的很多種類的樣本，而且還可以對精煉黃金產(chǎn)品進(jìn)行快速準(zhǔn)確的分析。
1.通過對土壤、鉆屑和鉆芯中的探途元素進(jìn)行xrf分析，可以快速發(fā)現(xiàn)潛在的金元素礦化的情況。
2.使用xrf分析儀對樣本進(jìn)行預(yù)先篩選，可以獲得優(yōu)選樣本，合理使用分析經(jīng)費(fèi)，以及更準(zhǔn)確地確定鉆井的區(qū)域。
3.通過xrf技術(shù)繪制結(jié)構(gòu)特性的映射圖，并識別礦化蝕變區(qū)域，可以使用戶了解礦床，并有助于成功完成建模和定向工作。由于減少了稀釋方式的使用，因此可以獲得金采收量。
4.在巖石地球化學(xué)應(yīng)用中使用xrf技術(shù)，可以迅速、經(jīng)濟(jì)地為巖石進(jìn)行分類。
5.用于在礦產(chǎn)勘探和礦體定向應(yīng)用中探測金元素和金探途元素的便攜式xrf礦石分析儀
| 礦床類型 | 地球化學(xué)特征 |
| 造山金礦 | S、As、CO2、K+/– Sb、Te、Mo、W、Cu、Pb、Zn、Hg |
| 高硫化淺成熱液 | Ag、Cu、Te、Mo、Bi、Sn |
| 低硫化淺成熱液 | Zn、Hg、Se、K、As、Sb、Ag/Au |
| 卡林型 | As、Sb、Hg、Tl |
| 斑巖型銅-金礦 | Cu、Pb、Zn、Ag |
| 含金矽卡巖 | Bi、Te、As、Co |
| 侵入型相關(guān)金礦 | Bi、W、As、Sb、Mo、Te |
| 火山成因塊狀硫化物礦床（VHMS） | Cu、Pb、Zn、Ag、Ba、K、Mg +/–CO2 |
| 鐵氧化物銅-金礦（U） | F、P、Co、Ni、As、Mo、Ag、Ba、U、LREE |
| 表生金礦 | 高成色金礦 +/– 以上任何元素 |
金礦床的相關(guān)地球化學(xué)特征
探途元素和蝕變地球化學(xué)
大多數(shù)金礦床都有其特定的地球化學(xué)特征（如上表所示）。XRF礦石分析儀可以探測到這些地球化學(xué)特征，從而可使地質(zhì)學(xué)家更清楚地了解他們正在勘查的地質(zhì)系統(tǒng)。典型的金探途元素包含As、Cu、Pb、Zn、Sb、Bi、Ag和W。
常見金探途元素的典型XRF檢出限（Vanta VMR型號地球化學(xué)模式）
| 元素 | 檢出限（ppm）* | 元素 | 檢出限（ppm）* |
| As | 2 | W | １-２ |
| Cu | ２-５ | Bi | 1 |
| Pb | ２-３ | Sb | 2 |
| Zn | 1 | Ag | ２-５ |
*每個(gè)光束120秒的檢測時(shí)間，無干擾的二氧化硅基質(zhì)；請參閱奧林巴斯有關(guān)檢出限的文件，了解有關(guān)更低檢出限的詳細(xì)探討說明。
用于探測金元素的XRF礦石分析儀
眾所周知，手持式XRF礦石分析儀不能對地質(zhì)樣本中低含量的金元素進(jìn)行直接檢測（如：低ppm和ppb值）?；趯?shí)驗(yàn)室的火試金法被普遍認(rèn)為是分析金元素的方法。金元素的L線處于X射線熒光能量頻譜的非常擁擠的區(qū)域。在頻譜的這個(gè)區(qū)域中，來自其它元素（如：As, Zn, W和Se）的干擾，會使分析儀得出錯(cuò)誤的金元素存在的判斷。
不過，在某些特定的情況下，如：高品位的（> 5 ppm）石英脈環(huán)境（相對來說沒有干擾）或在精煉的金產(chǎn)品中（金元素有很高的含量），可以使用XRF礦石分析儀對金元素進(jìn)行直接檢測。
金礦上越來越多的實(shí)驗(yàn)室正在使用XRF技術(shù)替代或補(bǔ)充火試金法，對礦石進(jìn)行分析。請參閱奧林巴斯應(yīng)用注釋“在金礦實(shí)驗(yàn)室中使用手持式XRF礦石分析儀”。在礦山上，工作人員也會使用奧林巴斯手持式XRF礦石分析儀檢測活性炭中的金元素。請參閱奧林巴斯應(yīng)用注釋“檢測活性炭中的金元素”。
